
半導體設備
編帶後檢測設備(自動磁帶內偵測系統)|KIG-2000a-C2
KIG-2000a-C2為具備雙相機表裏檢查功能的編帶後檢測設備,適用於透明或半透明橡皮蓋帶中包裝之電子元件外觀檢測。設備可同時進行正反兩面的檢查,以提升檢測覆蓋範圍與判定準確度,特別適合用於對品質要求較高的連接器、開關、線圈及鋁電解電容等元件之檢測應用。
- 前後偵測(雙鏡頭)
- 壓花膠帶,透明型
- 透明壓紋膠帶,適用於連接器、開關、線圈、鋁電解電容器及中型工件

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編帶後檢測設備(自動磁帶內偵測系統)|KIG-2000a-C2
KIG-2000a-C2為具備雙相機表裏檢查功能的編帶後檢測設備,適用於透明或半透明橡皮蓋帶中包裝之電子元件外觀檢測。設備可同時進行正反兩面的檢查,以提升檢測覆蓋範圍與判定準確度,特別適合用於對品質要求較高的連接器、開關、線圈及鋁電解電容等元件之檢測應用。
該設備透過觸控面板進行操作,專用軟體可輕鬆切換產品類型和各種設定。
測試結果可以即時顯示在顯示器上,測試圖像也可以保存和回放。
自動倒帶過程中的重檢和複檢可以降低誤報率,自動倒帶功能還能提高工作效率。
產品概述
影像偵測技術可對密封在壓花膠帶中的工件進行目視檢測。
產品規格
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